RJL Micro & Analytic
FEI-ASPEX analytische Elektronenmikroskope SEM-EDX

«Was ist es, wieviel und woher?»

Diese Frage tritt täglich im Qualitätslabor auf: «Was ist es, wieviel liegt vor und woher stammt es?» 
Ein ASPEX Raster-Elektronenmikroskop von FEI beantwortet diese Frage in wenigen Minuten.

Marker grau

FEI-ASPEX industrielle Elektronenmikroskope

 

 

 

 

 

 

 

www.fei.com

 

Aspex-Mikroskope bieten eine vollständige
Integration von mikroskopischer Abbildung
und Elementanalyse. Die robusten Geräte
werden in industriellen Prüflabors
für alle
Qualitätsaufgaben, Sauberkeitsprüfungen
und für die Partikelanalytik eingesetzt.

 

 

 

 

 

 

Marker grau

Weiterführende Links

 

 

 

 

  • FEI Aspex Product Group im Internet  www.fei.com
  • Spezifikationen als PDF (2.5 MB)  Aspex_Products.pdf
  • Sauberkeitsanalyse mit SEM-EDX  Sauberkeitsanalyse mit SEM-EDX
  • Beauftragen Sie unser akkreditiertes
    Prüflabor mit Ihren Proben
    Analysenservice

 

Marker grau

Aspex Explorer

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Aspex Explorer

 

SEM-EDX-System für vollautomatische Partikelanalyse mit Materialidentifikation,
optimal für Bauteilsauberkeit, Schadensanalytik, Qualitätskontrolle, große
Probenkammer, SE-, BE-Detektor, variables Niedervakuum

 

 

Spezifikationen

 

 

 

Partikelgrößen
Abbildungsmodi
Hochspannung
Röntgendetektor
Vakuumsystem
Probenkammer
Motorisierung
Plattform
Software
Partikelanalyse
Compliance

100 nm bis 5 mm
SE- und QuadBE-Detektor
variabel bis 20/25 kV
stickstofffreies SDD-EDX
Hochvakuum, variabler Niederdruck
Einschubprinzip, Bühne XY/Z/R/T
100 mm x 80 mm
Windows-PC
Perception Suite
Automated Feature Sizing (AFA)
Good Manufacturing Practice (GMP)

 

 

 

 

 

 

 

Anwendungsbeispiele

 

 

 

 

 

 

 

automatische Teilchenanalyse

 

automatische Teilchenanalyse

 

 

 

 

 

 

 

Detektion von Schmauchspuren

 

Detektion von Schmauchspuren

 

 

 

 

 

 

 

Analyse von Stahleinschlüssen

 

Analyse von Stahleinschlüssen

 

 

 

 

 

 

 

verlässliche Metallpartikelanalyse

 

verlässliche Metallpartikelanalyse

 

 

 

 

 

 

© RJL Micro & Analytic GmbH, Im Entenfang 11, 76689 Karlsdorf-Neuthard, Deutschland (2007-16) - Impressum - Sitemap

 

Akkreditiertes Prüflabor Aspex Bauteilsauberkeit Bruker microCT E2V EDX Gunshot Residue GSR In-Vivo ISO-16232 ISO-17025 ISO-4405 ISO-4406 ISO-4407 Kubtec Laser-Mikroskopie Materialbestimmung Micro-CT MicroQuick Mikro-CT Mikrotomographie Millbrook MiniSIMS Nano-CT Nanotomographie Nanophoton Ölreinheitsanalyse Partikelanalyse Partikelscanner Partikeltypisierung PSEM Radiographie Rasterelektronenmikroskopie Raman-Mikroskopie REM Restschmutzanalyse Restschmutzbestimmung Röntgenanalyse Röntgeninspektion SAI Sauberkeitsanalyse SEM-EDX SGX Sensortech SIMS-TOF SkyScan South Bay Technology Stahleinschlussanalyse Technische Sauberkeit Time-Of-Flight VDA-19 Zerstörungsfreie Prüfung