Modelle

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

PSEM/PICA eXplorer

 

PSEM eXtreme

 

PSEM eXpress

 

ASPEX PSEM eXplorer

 

ASPEX PSEM eXtreme

 

ASPEX PSEM eXpress

 

universell einsetzbares SEM-EDX-System, große Probenkammer, SE-, BE-Detektor, variables Vakuum: ideal für klassische
SEM-EDX-Analyse und automatische Partikelanalytik auf allen Gebieten

 

robustes und mobiles System, einfach und schnell vor Ort zu installieren: Bergbau, Geologie, Archäologie, Überwachung von Düsentriebwerken

 

kompaktes SEM-EDX-Tischgerät, kleine Probenkammer, variables Vakuum: optimal für automatische Partikelanalyse, Prüfung der Bauteilsauberkeit

Weiterführende Links

 

 

 

  • Produktkatalog von ASPEX als PDF (1 MB) Aspex_Products.pdf
  • ASPEX Corporation, USA im Internet www.aspexcorp.com

 

 

 

Lohnt sich ein Kauf für Sie?

 

Als Alternative zum Kauf können Sie unseren akkreditierten Service mit der Analyse Ihrer Proben beauftragen. Analysenservice

 

 

 

Empfohlenes Zubehör

 

  • Systeme und Hilfsmittel für die Probenpräpa- ration von South Bay Technology South Bay Technology
  • Verfahren der Partikelextraktion - MicroEx, MicroStrip, MicroWipe und MicroFix Partikelextraktion

Spezifikationen

 

 

 

 

 

Partikelgrößen
Abbildungsmodi
Hochspannung
Röntgendetektor
Vakuumsystem
Probenkammer

100 nm bis 5 mm
SE- und QuadBE-Detektor
variabel bis 20/25 kV (je nach Modell)
Si(Li)- oder stickstofffreies SDD-EDX E2V-Gresham
Hochvakuum und variabler Niederdruck
Einschubprinzip, Bühne XY/Z/R/T

ASPEX Elektronenmikroskope

 

 

 

ASPEX bietet die völlige Integration von mikros- kopischer Abbildung und Elementanalyse auf einer Plattform. Aufgrund dieses einmaligen Prinzips wird die klassische SEM-EDX-Analyse extrem vereinfacht. Zudem sind eine Fülle automatisierter Anwendungen implementiert, die Ihnen das Leben erleichtern!

«Was ist es, wieviel und woher?»

Diese Frage tritt täglich im Labor auf: «Hier ist eine Probe. Was ist es, wieviel liegt vor und woher stammt es?» 
Ein Raster-Elektronenmikroskop von ASPEX beantwortet diese Frage in wenigen Minuten.

Anwendungsgebiete

 

 

 

Klassische SEM-EDX-Analyse

 

  • Qualitätskontrolle von Oberflächen, Schichten und Pulvern
  • Werkstoffanalyse, Schmutzpartikel
  • Verschleißpartikel, Risse und Bauteilversagen

 

Automatische Partikelanalyse

 

  • Analyse von Partikelgröße, -form und Zusammensetzung
  • Technische Sauberkeit (Automobil, Luftfahrt) Restschmutzanalyse mit SEM-EDS
  • Schmauchspur-Residuen GSR (Forensik)
  • nicht-metallische Einschlüsse in Metallen (Stahlindustrie)
  • Fremdpartikel in Wirkstoffen (Pharmazie)
  • Verschleiß von Düsentriebwerken (Luftfahrt, Militär)

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ASPEX analytische Elektronenmikroskope

 

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Firmenprofil Stichworte - Vertrieb: Aspex, E2V, SkyScan, SAI, Millbrook, South Bay Technology, SEM, EDX, Mikro-CT, MiniSIMS - Analysenservice: akkreditiertes Prüflabor, Partikelanalyse, Restschmutzanalyse, Sauberkeitsanalyse, technische Sauberkeit, Bauteilsauberkeit, VDA-19, ISO-16232, Ölanalyse, ISO-4406, Stahleinschlussanalyse