«Nie wieder flüssigen Stickstoff nachfüllen»

E2V Modelle

 

 

 

 

 

 

 

SiriusSD Silicon-Drift

 

Sirius Si(Li)

 

SiriusSD

 

Sirius

 
  • aktive Fläche 10 und 30 mm2
  • spektrale Auflösung ab 133 eV
  • Fenster für leichte Elemente und Be-Fenster
  • EDX- und XRF-Version verfügbar

 
  • aktive Fläche bis 80 mm2
  • spektrale Auflösung ab 129 eV
  • alle gängigen Fenster
  • kundenspezifisches Design falls gewünscht

Für die neuen EDX-Detektoren von E2V (ehemals GRESHAM) benötigen Sie keinen flüssigen Stickstoff.
Die Silicon-Drift-Technologie macht dies möglich!

Anwendungsgebiete

 

 

 
  • Röntgenelementanalyse
  • Aus-/ Umrüstung vorhandener SEM-, TEM- und XRF-Systeme

Weiterführende Links

 

 

 
  • E2V scientific instruments, GB im Internet www.e2vsi.com
  • ASPEX Elektronenmikroskope Produkseite Aspex

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EDX-Röntgendetektoren von E2V

 

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