RJL Micro & Analytic
SAI Sekundärionen-Massenspektroskopie (QP/TOF)

«Chemische High-End-Analytik im Tischformat»

Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) muss weder raumfüllend noch unbezahlbar sein!
SAI entwickelt eine hochempfindliche chemische Messtechnik, die durch einfache Handhabung überzeugt.

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MiniSIMS

 

 

 

 

 

Das MiniSIMS ist ein wirtschaftliches Tischgerät, das alle
gewohnten SIMS-Funktionen in einem System vereinigt.
Es wird verwendet zur Charakterisierung von Oberflächen
und Tiefenprofilen, zur Messung von Verunreinigungen
und Dotierstoffen sowie zum Nachweis leichter Elemente,
Verbindungen und Organik. Die einfache Handhabung
erlaubt eine Einarbeitung innerhalb weniger Tage
und setzt kein SIMS-Expertenwissen voraus.

 

 

 

 

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Scientific Analyses Instruments (SAI)

 

 

 

 

 

 

www.saiman.co.uk

Neben dem MiniSIMS
stellt SAI auch MALDI-
und GC-TOF her. Das
Herzstück ist der TOF-
Detektor aus eigener
Entwicklung.

 

 

 

 

 

Scientific Analyses Instruments im Internet  www.saiman.co.uk

 

 

 

 

 

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Modelle

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

MiniSIMS

 

 

MiniSIMS-a

 

 

 

  • Quadrupol-Spektrometer (QP)
  • Masse 3 bis 300 u
  • Messzeit pro Spektrum 10 bis 30 s

 

 

 

 

MiniSIMS-TOF

 

 

 

  • Time-of-Flight-Spektrometer (TOF)
  • Masse 1 bis >1200 u, höhere Auflösung als Quadrupol
  • Messzeit pro Spektrum < 1 s, retrospektive Analyse

 

 

 

 

Optionen

 

 

 

  • Probenentladung mittels Elektronenkanone
  • erweiterte Probenkammer (bis zu 30 Proben im Batch)

 

 

 

 

Broschüre als PDF herunterladen (550 kB)  SAI-MiniSIMS.pdf

 

 

 

 

 

 

 

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Spezifikationen

 

 

 

 

 

 

Betriebsarten


Primärstrahl
Empfindlichkeit
Probenkammer

Abmessungen

statisch (broad beam)
ortsaufgelöst (chemisches Mapping)
dynamisch (Tiefenprofilierung)
Gallium-Ionenquelle
unterer ppm-Bereich und besser
größte Probe Ø 100 mm
bis 31 Proben Ø 12 mm
110 cm breit, 63 cm tief, 70 cm hoch

 

 

 

 

 

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Anwendungsgebiete

 

 

 

 

 

Typisch: Kontamination, Beschichtungen, Elektroden,
Sensoren, Katalysatoren, Dünnschichten, Korrosion

 

 

 

 

  • Oberflächenanalyse, schnelle chemische Abbildung
  • hohe Empfindlichkeit, Nachweis aller Elemente ab Li
  • Verbindungen, Moleküle und Organik
  • Tiefenprofile von Dünnschichten

 

 

 

 

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