RJL Micro & Analytic
Herkunftsbestimmung durch SEM-EDX-Partikelanalyse

«Gehen Sie den Schmutzquellen auf den Grund»

Die Herkunft der Partikel lässt sich durch eine Typisierung der Materialklassen präzise ermitteln.
Nur so können Sie die Quellen der Verunreinigung gezielt aus dem Fertigungsprozess eliminieren.

Partikelanalytik mittels vollautomatischer SEM-EDX

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Beipsiel: SiO2-Strahlgut

 

Vorteile

 

Verfahren

 

Weiterführend

 

 

SEM-Bild und  EDX-Spektrum (Siliziumoxid)

 

Bei dieser Methode
werden Größe und
Material der Partikel
in einem einzigen
Schritt automatisch
analysiert.

Durch die feine
Abtastung mit dem
Elektronenstrahl sind
auch die kleinsten
Teilchen unter 1 µm
mit hoher Präzision
messbar.

Die Kenntnis von den
Partikel-Werkstoffen
erlaubt eine sichere
Bestimmung der
Herkunft.

 

Zuerst werden die Partikel
durch einen fein fokussierten
Elektronenstrahl detektiert.

Danach wird anhand einer
Rasterabtastung die Größe
des Teilchens gemessen
(SEM). Gleichzeitig wird das
Röntgenspektrum für jedes
Partikel aufgezeichnet und
so die Konzentration der
enthaltenen Elemente
bestimmt (EDX).

Die Klassifizierung des
Werkstoffs erfolgt durch
Vergleich der elementaren
Zusammensetzung mit
einer Datenbank von
Referenzmaterialien.

 

Beispielanalyse als
PDF herunterladen
(80 kB)  Beispielanalyse.pdf

Entdecken Sie die
SEM-EDX-Systeme
von Aspex speziell
für die Analyse von
Partikeln.  Aspex

Unser Prüflabor
führt Analysen in
Ihrem Aufrag
durch.  Analysenservice

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Anwendungsbeispiele

 

 

 

 

 

 

 

Woher kommt dieser Span?

 

Woher kommt dieser Span?

 

 

 

 

 

 

 

Korund - das Killerpartikel

 

Korund - das Killerpartikel

 

 

 

 

 

 

 

Glasfaserverstärkter Kunststoff

 

Glasfaserverstärkter Kunststoff

 

 

 

 

 

 

© RJL Micro & Analytic GmbH, Im Entenfang 11, 76689 Karlsdorf-Neuthard, Deutschland (2007-16) - Impressum - Sitemap

 

Akkreditiertes Prüflabor Aspex Bauteilsauberkeit Bruker microCT E2V EDX Gunshot Residue GSR In-Vivo ISO-16232 ISO-17025 ISO-4405 ISO-4406 ISO-4407 Kubtec Laser-Mikroskopie Materialbestimmung Micro-CT MicroQuick Mikro-CT Mikrotomographie Millbrook MiniSIMS Nano-CT Nanotomographie Nanophoton Ölreinheitsanalyse Partikelanalyse Partikelscanner Partikeltypisierung PSEM Radiographie Rasterelektronenmikroskopie Raman-Mikroskopie REM Restschmutzanalyse Restschmutzbestimmung Röntgenanalyse Röntgeninspektion SAI Sauberkeitsanalyse SEM-EDX SGX Sensortech SIMS-TOF SkyScan South Bay Technology Stahleinschlussanalyse Technische Sauberkeit Time-Of-Flight VDA-19 Zerstörungsfreie Prüfung