RJL Micro & Analytic
Über unser Unternehmen

«Prompt, präzise und professionell»

Nach diesem Leitsatz handeln wir täglich im Sinne unserer Kunden.
Wir bieten Instrumente, Analysenservice und Anwendungsexpertise - alles aus einer Hand.

Marker grau

Von 1997 bis heute

 

 

 

 

 

 

 

Die RJL Micro & Analytic GmbH wurde 1997 von Bernhard
Heneka als Vertrieb für automatisierte SEM-EDX-Systeme
der Firma R.J. Lee Instruments (heute ASPEX) gegründet.
Kurz darauf wurde ein Demo- und Prüflabor eingerichtet,
wodurch wir in die Lage versetzt wurden unsere eigene
instrumentelle Analytik als Dienstleistung anzubieten. In
den darauf folgenden Jahren ist die Gesellschaft stetig
gewachsen und hat dabei Verantwortung für vier weitere
Produktlinien übernommen, die mit großem Erfolg in
Deutschland, Europa und weltweit vermarktet werden.

Ein wichtiger Meilenstein in der Firmenentwicklung ist die
Akkreditierung unseres Prüflabors nach ISO-17025, die
erstmals im Jahr 2006 durchgeführt wurde. Bis heute ist
RJL Micro & Analytic GmbH ein inhabergeführtes Familien-
unternehmen, das sich mit Leidenschaft außergewöhnlichen
analytischen Aufgabenstellungen widmet. Daher sind wir
auch in Zukunft ein kompetenter Partner bei analytischen
Lösungen für unsere Kunden aus der Industrie und
Wissenschaft.

 

 

 

 

 

 

Unser Firmensitz erbaut 2010

 

 

 

 

 

 

 

Firmensitz und Gelände in Neuthard

 

 

 

 

 

© RJL Micro & Analytic GmbH, Im Entenfang 11, 76689 Karlsdorf-Neuthard, Deutschland (2007-17) - Impressum - Sitemap

 

Akkreditiertes Prüflabor Aspex Bauteilsauberkeit Bruker microCT E2V EDX Gunshot Residue GSR In-Vivo ISO-16232 ISO-17025 ISO-4405 ISO-4406 ISO-4407 Kubtec Laser-Mikroskopie Materialbestimmung Micro-CT MicroQuick Mikro-CT Mikrotomographie Millbrook MiniSIMS Nano-CT Nanotomographie Nanophoton Ölreinheitsanalyse Partikelanalyse Partikelscanner Partikeltypisierung PSEM Radiographie Rasterelektronenmikroskopie Raman-Mikroskopie REM Restschmutzanalyse Restschmutzbestimmung Röntgenanalyse Röntgeninspektion SAI Sauberkeitsanalyse SEM-EDX SGX Sensortech SIMS-TOF SkyScan South Bay Technology Stahleinschlussanalyse Technische Sauberkeit Time-Of-Flight VDA-19 Zerstörungsfreie Prüfung