Technische Sauberkeit | RJL Micro & Analytic

KI-Segmentierung erweitert das Spektrum der automatischen SEM-EDX-Analytik

Sebastian Wex — Wed, 19 Aug 2026 13:27:30 +0000

Für das Phenom ParticleX hat ThermoFisher kürzlich eine KI-gestützte Segmentierung entwickelt, die eine Objekterkennung ohne klare Graustufentrennung ermöglicht.

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Treffen Sie uns auf der 16. Fachtagung Technische Sauberkeit in Heidenheim

Markus J. Heneka — Wed, 20 May 2026 09:17:59 +0000

Wir freuen uns sehr, dass wir mit einem Informationsstand an der 16. Fachtagung Technische Sauberkeit in Montage- und Produktionsprozessen teilnehmen und unsere Produkte einem interessierten Publikum vorstellen können.

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Ultra-Schnelle SEM-EDX Analyse von Restschmutzpartikeln ab 100 µm mit dem ParticleX

Markus J. Heneka — Wed, 19 Nov 2025 09:48:19 +0000

Mit modernen SEM-EDX-Geräten ist die Partikelanalyse des gesamten Filters meist schneller als ein korrelativer Ansatz. Das Phenom ParticleX automatisiert die Restschmutzanalyse, der Anwender benötigt kein Expertenwissen. Und das beste daran: Ein Durchgang ab 100 µm dauert in der Regel nur rund 15 Minuten. Sehen Sie sich das im Video an!

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Laborkapazität für SEM-EDX Partikelanalytik erfolgreich getestet

Markus J. Heneka — Wed, 15 Oct 2025 07:12:47 +0000

Kürzlich wurden wir von einem Kunden unseres Prüflabors herausgefordert. Die Aufgabe war die Restschmutzpartikel aus 48 Komponenten zu extrahieren und deren Herkunft und Risikopotential mittels SEM-EDX zu untersuchen - Lieferung der Ergebnisse innerhalb einer Woche!

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Historisches PSEM im Elektronenmikroskopie-Museum Nürnberg zu sehen

Markus J. Heneka — Mon, 08 Sep 2025 06:48:19 +0000

Ein historisches aber noch funktionsfähiges PSEM-Mikroskop haben wir dem Elektronenmikroskopie-Museum Nürnberg e.V. überlassen. Das Museum zeigt anhand vielfältiger Exponate die Geschichte und Einsatzbereiche der Elektronenmikroskopie und war vor Kurzem in einem Beitrag des Bayerischen Rundfunks zu sehen. Wir freuen uns sehr, dass unser Gerät einen Platz in der Ausstellung gefunden hat und dort weiterverwendet wird.

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Wir vergeben kostenlose Eintrittskarten für die Parts2Clean 2025

Markus J. Heneka — Wed, 27 Aug 2025 09:57:45 +0000

In diesem Jahr sind wir erneut mit einem Stand auf der Parts2Clean, der Leitmesse für Industrielle Teile- und Oberflächenreinigung, in Stuttgart vertreten. Für unsere Kunden verfügen wir über ein Kontingent an kostenlosen Eintrittskarten und laden Sie herzlich ein, uns im Rahmen dieser Messe zu treffen.

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Fremdpartikel in Arzneimittelflaschen

Markus J. Heneka — Fri, 04 Apr 2025 12:23:19 +0000

Kürzlich haben wir für einen Analysekunden ermittelt, ob und in welchem Umfang der Gummistopfen, der zum Verschließen einer Medikamentenflasche verwendet wird, Partikel erzeugt, wenn er zur Entnahme des Präparates mit einer Spritze durchstochen wird. Der Kunde war überrascht, dass beim Durchstechen des Stopfens Partikel von mehreren hundert Mikrometern entstehen können und wollte den Vorgang statistisch untersuchen.

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Richtige Probenverpackung für die Sauberkeitsprüfung von hochreinen Produkten

Markus J. Heneka — Tue, 18 Feb 2025 09:55:17 +0000

Unsere Kunden fragen oft, wie sie ihre sensible Proben für den Transport in unser Prüflabor am besten verpacken. Produkte von hoher Reinheit müssen sorgfältig behandelt werden. Eine Anleitung zum richtigen Verpacken ist im folgenden Video zu sehen.

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Particle Browser: Ein Neues Werkzeug zur Nachkontrolle der SEM-EDX Partikelanalyse

Markus J. Heneka — Wed, 26 Jun 2024 09:45:18 +0000

Wer eine Sauberkeitsprüfung von Proben durchführen lässt, ist auf eine zuverlässige Untersuchung und genaue Bestimmung und Darstellung der enthaltenen Partikel angewiesen. Mit unserem Particle Browser bieten wir Ihnen eine Software zur Nachkontrolle und Revision an, um Analyseergebnisse zu verifizieren bzw. mögliche Messfehler zu erkennen und zu korrigieren.

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