SEM-EDX PARTIKELANALYTIK
Phenom ParticleX ermöglicht automatische Analyse im Hochdurchsatz
Phenom ParticleX
Partikelanalyse im Tischformat
Das System bietet die vollständige Integration von mikroskopischer Abbildung (SEM) und Elementanalyse (EDX) in einer Software und eignet sich daher bestens für automatische Partikelanalyse und schnelle manuelle SEM-EDX Analytik.
Spezifikationen
- Automatik für Partikel & manuelle SEM-EDX Analytik
- XL-Probenkammer, 4 x 47 mm Filter oder 36 x 12 mm Stubs
- Motorisierte Bühne XY 100 mm x 100 mm
- Langlebiges CeB6-Filament, ca. 2000 Stunden
- Variable Hochspannung 4.8-20.5 kV
- Integrierter SDD EDX-Detektor, aktive Fläche 25 mm²
- Hochvakuum und variables Niedervakuum
- BE-Detektor für Partikelanalyse, optional SE-Detektor
- Vergrößerung bis 100.000-fach, zusätzlich 12x Digitalzoom
- Integriertes Lichtmikroskop, Vergrößerung 3-16x
Perception Software
Für höchsten Durchsatz entwickelt
Dynamische Strahlkontrolle
Das Suchgebiet wird mit dem Elektronenstrahl punktweise abgerastert, leere Flächen werden schnell gescannt. Das spart bis zu 98% der Zeit für die Bildgebung. Erst wenn ein Partikel detektiert wird, schaltet Perception in den Messmodus um.
Mikroskopische Aufnahme
Zur Vorbereitung der granulometrischen Analyse wird das Partikel in hoher Auflösung mikroskopiert. Die hervorragende Bildqualität des ParticleX gibt dem Anwender einen optimalen Eindruck von der Morphologie des Partikels.
Granulometrische Analyse
Durch Segmentierung des mikroskopischen Bilds mit einem Schwellwert wird ein geometrisches Binärmodell des Partikels erzeugt. Anhand dieses Modells werden die relevanten Partikelabmessungen ermittelt.
Klassifizierung des Materials
Noch während der Bildaufnahme werden die Elemente und deren Gewichtsanteile durch Röntgen-Elementspektroskopie (EDX) bestimmt. Die Typisierung des Materials erfolgt mittels einer hierarchischen Datenbank.
Sie kümmern sich um nichts
Reproduzierbare Ergebnisse unabhängig vom Bediener sind nur durch Automatisierung zu erreichen. Die Perception Software sorgt durch automatische Routinen dafür, dass das System immer optimal eingestellt ist. Der Anwender muss sich um nichts kümmern:
- Auto Videolevel und Schwellwert
- Auto Fokus und Degauss
- Auto EDX-Kalibrierung
- Auto Gun Alignment
- Auto Vakuumsteuerung
Geschichte von Perception
Die Entwicklung der automatischen SEM-EDX Partikelanalysatoren geht auf das Jahr 1995 zurück, als Richard J. Lee das erste PSEM mit Perception unter MS-DOS für die Stahleinschlussanalyse entwickelte. Seitdem wurde die Softwareplattform ständig weiterentwickelt und an die Anforderungen neuer Anwendungen angepasst.
Phenom ParticleX – das ist die perfekte Symbiose der bekannten Perception Software für Partikelanalyse mit den robusten Phenom SEM-EDX Tischgeräten von Thermo Fisher Scientific. Das Instrument zählt und vermisst Partikel und klassifiziert das Material vollautomatisch. Die kompakten Geräte werden in industriellen Prüflabors, in der Forschung und in kriminaltechnischen Labors für Partikel- und Einschlussanalytik und eingesetzt eingesetzt.
Highlight-Anwendungen
Technische Sauberkeit
Bei der Restschmutzanalyse in der Automobil- und Medizintechnik werden Größe und Material von Fremdpartikeln bestimmt, um das Risiko von Ausfällen und Schäden abzuschätzen und die Herkunft der Verunreinigung zu ermitteln.
Schmauchspuranalyse
In der Kriminaltechnik ist der sichere Nachweis von Schmauchspuren an Händen und Kleidung von Tatverdächtigen für den Schusswaffennachweis erforderlich. Der sogenannte Gun Shot Residue (GSR) besteht aus charakteristischen Elementen, die mit der SEM-EDX Partikelanalyse nachgewiesen werden können.
Stahleinschlussanalyse
Zur Bestimmung der Stahlqualität werden Anzahl, Größe und chemische Zusammensetzung der nichtmetallischen Einschlüsse (meist Oxide) untersucht. Eine Darstellung der Ergebnisse in Dreistoffdiagrammen gibt einen schnellen Einblick.
Pulver für Batterieherstellung
Die Batterieleistung wird wesentlich von Partikelgröße, Morphologie und Zusammensetzung des NMC-Pulvers beeinflusst. Ebenso relevant sind metallische und harte Fremdpartikel, die den Separator der Batteriezelle beschädigen können.
Additive Manufacturing
Für den fehlerfreien 3D-Druck von Bauteilen ist die Qualität des Pulvers entscheidend. Bei der Pulveranalyse werden Größe, Form, Agglomeration und Oxidation der Metallpartikel untersucht. Gerade bei größeren Produktionslinien lohnt sich die Investition in ein SEM-EDX mit Partikelautomation.
Bühnen, Halter & Zubehör
XL-Probenkammer als Einschub
Probenkammer einfach herausnehmen und bequem bestücken – das geht nur mit dem Phenom ParticleX. Der Probenraum von 100 mm x 100 mm x 65 mm nimmt auch große und sperrige Proben auf, meist ohne aufwändige Präparation.
Halter für 47 mm Membranen
Bei der Sauberkeitsanalyse werden die Fremdpartikel zur Untersuchung auf 47 mm Membranen präpariert. Vier Filterplätze erlauben eine Automatikbetrieb mit hohem Durchsatz. Damit wird Ihr ParticleX zu einem echten Arbeitspferd. Optional gibt es einen Halter für neun 25 mm Membranen.
Universalhalter für Stubs & Proben
Der Standardbühne ist in XY (100 mm x 100 mm) motorisiert. Die Höhe wird vom Benutzer über eine manuelle Z-Achse (65 mm) eingestellt, eine Motorisierung ist optional erhältlich. Der Halter bietet Platz für mehrere Proben und komplette Bauteile oder bis zu 36 x 12 mm Stubs im Lochraster.
Nebula Particle Dispenser
Mit dem Nebula Partikeldispenser steht eine Standardmethode für die gleichmäßige Dispersion von Trockenpulver auf Stubs zur Verfügung. Das Verfahren garantiert eine homogene Verteilung auf der Fläche, wodurch die SEM-EDX Analyse erleichtert wird.