MICROPRODUCTS
Partikelfallen, Stempel und andere kleine Helfer
Produktionsnahe Überwachung
Für die Überwachung der Bauteilsauberkeit in der Produktion eignen sich besonders die MicroStamp-Partikelstempel. Das Material ist weich und passt sich beim Abklatschen auch an gekrümmte Oberflächen an.
Die Klebeschicht des Stempels ist optimiert für die optische Analyse und kann mit dem MicroQuick-Partikelscanner innerhalb von zwei Minuten bewertet werden. Damit können Sie den Prozess der Teilereinigung schnell und zuverlässig überwachen.
MicroStamp-Partikelstempel
Partikelstempel zum flächenselektiven Abklatschen von Restschmutz direkt von der Oberfläche. Mit weißem oder schwarzem Hintergrund erhältlich. Anwendung:
→ schnelle Prozesskontrolle
→ übergroße Bauteile
MicroTrap-Partikelfallen
Partikelfalle zur Sauberkeitskontrolle der Umgebung. Geeignet für Analyse mittels MicroQuick, SEM-EDX. Mit weißem oder schwarzem Hintergrund erhältlich. Anwendung:
→ Labor- und Sauberräume
→ Produktionsstätten
→ Lager und Logistik
MicroParticles
Partikelmischungen nach Kundenwunsch zusammengestellt im Hinblick auf Größe und Materialien (Aluminiumlegierungen, Stahl, Kupfer, Glasstrahlmittel, Sande, Quarz, Korund). Anwendung:
→ Simulation von Ausfällen auf dem Prüfstand
→ Wiederfindung von Testpartikeln bei der Analyse
MicroFix-Partikelfixierlösung
Lösung zur Fixierung von Partikeln auf Membranen. Entwickelt speziell für SEM-EDX und Lichtmikroskopie zur Vermeidung von Partikelverlusten bei Transport und Archivierung oder durch Aufladung von Partikeln im SEM-EDX.
- kompatibel mit Aspex Explorer SEM-EDX
- kompatibel mit Phenom ParticleX
