SEM-EDX PARTIKELANALYSER

Schnelle Typisierung von Partikeln & Stahleinschlüssen

Aspex PSEM Explorer

Der Aspex Explorer bietet eine vollständige Integration von mikroskopischer Abbildung und Elementanalyse. Die robusten Geräte werden in industriellen Prüflabors für die Qualitätskontrolle und Partikelanalytik eingesetzt.

Der Nachfolger des Aspex PSEM in dritter Generation ist ein SEM-EDX-System speziell entwickelt für die Partikelanalyse. Das Instrument zählt und vermisst Teilchen und bestimmt das Material vollautomatisch. Der Aspex Explorer ist optimal geeignet für die Prüfung der Bauteilsauberkeit sowie für die Analyse von Schadensfällen, Stahleinschlüssen und Partikeln in der Automobil- und Pharmaindustrie.

Aspex_explorer

Spezifikationen

  • Partikelgröße ab 1 µm
  • SE- und QuadBE-Detektor
  • Hochspannung variabel 5 bis 25 kV
  • stickstofffreies SDD-EDX, 10 mm² 135 eV
  • Hochvakuum, variabler Niederdruck
  • Probenkammer im Einschubprinzip
  • motorisierte Bühne XY 80 mm x 100 mm x R 360°
  • Windows-PC, Perception Suite 1
  • Automated Feature Sizing (AFA)
fei-logo

Die Entwicklung des PSEM geht auf Richard J. Lee zurück, der das erste digitale SEM unter MS-DOS in den spätem 1980ern eingeführt hat. Die PSEM-Systeme wurden unter der Marke Aspex weiterentwickelt und haben in der Folgezeit eine führende Position in der SEM-EDX-Partikelanalytik eingenommen. Aspex wurde in 2013 von FEI und in 2017 von Thermo Fisher Scientific übernommen.