SEM-EDX PARTIKELANALYSER
Schnelle Typisierung von Partikeln & Stahleinschlüssen
ASPEX PSEM Explorer
Der Nachfolger des Aspex Explorer in vierter Generation ist ein SEM-EDX-System speziell entwickelt für die Partikelanalyse. Das Instrument zählt und vermisst Teilchen und bestimmt das Material vollautomatisch.
Der Explorer 4 ist optimal geeignet für die Prüfung der Bauteilsauberkeit sowie für die Analyse von Schadensfällen, Stahleinschlüssen und Partikeln in der Automobil- und Pharmaindustrie.
Spezifikationen
- Partikelgröße ab 0.5 µm
- SE- und QuadBE-Detektor
- Hochspannung variabel 5 bis 20 kV
- stickstofffreies SDD-EDX, 25 mm² 137 eV
- Hochvakuum, variabler Niederdruck
- Probenkammer im Einschubprinzip
- motorisierte Bühne XYZ 100 x 100 x 35 mm
- Windows-PC, Perception Suite 2
- Recipe Automated Feature Sizing (RAFA)
- CleanCHK und Metals Quality Analyzer
Der neue Explorer 4 Analyzer bietet eine vollständige Integration von mikroskopischer Abbildung und Elementanalyse. Die robusten Geräte werden in industriellen Prüflabors für die Qualitätskontrolle und Partikelanalytik eingesetzt.