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NEWS-BLOG

17. November 2020 Im Innovative Analytik, SEM-EDX

Coxem stellt BE-Detektor mit hervorragender Z-Auflösung vor

REM_EDX_Feldspat_Wachstumsringe

Coxem hat für seine SEM-EDX-Systeme vor kurzem einen neuen Rückstreuelektronen-Detektor (BE) vorgestellt, der durch exzellente Sensitivität überzeugt. Der neue BE-Detektor ist vor allem für Anwendungen interessant, die von einem hohen Kontrast der Ordnungszahl Z profitieren.

Unser Kunde von der Universität Göttingen wollte das genauer wissen und hat uns zur Qualifizierung des Detektors ein Z-Auflösungsstandard zur Verfügung gestellt. Das Standard besteht aus Messing, das durch Entmischung feinste Variationen der Ordnungszahl zeigt. Die feinen Linien im BE-Bild zeigen die beginnende Entmischung von Kupfer und Zink.

Brass_standard_low_Z_phase_segration

Dieses an sich nicht besonders spektakuläre Bild hat unseren Kunden dennoch in Erstaunen versetzt, da es zeigt, dass mit dem neuen BE-Detektor selbst kleinste Ordnungszahldifferenzen von ΔZ < 0.1 dargestellt werden können.

Unser Kunde hat als Anwendungsbeispiel eine weitere Probe aus magmatischem Gestein mitgebracht. Neben einer Vielzahl an Mineralen enthielt der Dünnschliff auch Feldspat, ein häufig vorkommendes Silikat-Mineral. Es ist bekannt, dass aus einer Schmelze auskristallisierende Minerale konzentrisch um einen Nukleus wachsen. Varianten in der chemischen Zusammensetzung können hierbei Aufschluss über den komplexen Kristallisationsprozess geben. Zur Visualisierung des Materialkontrasts wurde die Bildgebung mittels BE-Detektor durchgeführt. Die kontrastreiche Darstellung der Wachstumszonierung eines Feldspats ermöglichte die Differenzierung von mindestens 10 verschiedenen Wachstumsphasen. Ähnlich Baumringen stellen diese eine Variation in der Verfügbarkeit von "Nährstoffen", in diesem Fall Elementen, dar.

SEM_EDX_feldspar_crystal_growth_ rings

Weitere Informationen über die Methode finden Sie auf unserer SEM-EDX-Überblickseite oder in unserem Leitfaden für SEM-EDX.

Falls Sie ähnliche Untersuchungen durchführen möchten oder Interesse an einem eigenen System haben, freuen wir uns auf Ihre Kontaktaufnahme.

Coxem Rasterelektronenmikroskopie SEM-EDX

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